英国abi 电路板故障检测仪

BM8600电路板故障检测仪

产品概述

由硬件测试平台、可编程软件测试平台、测试夹具(含夹具、治具)组成。硬件测试平台由测试单元组成,可根据测试要求扩充测试单元进而扩充系统的测试功能和测试通道。软件测试平台可以通过代码和非代码编程方式完成测试程序编程,实现测试过程的所有数据和步骤的存档保留,形成流程化、标准化、信息化的测试程序,实现系统软件自动化测试,提高排查故障的准确率和系统的测试效率。

功能测试中的驱动条件

系统构成概述:

1.系统硬件测试平台:(各个测试单元可根据测试需要扩充测试模块以达到需要的测试通道)

1)多电源数字集成电路测试单元(数字电路测试单元):可扩充:2048路测试通道;

2)模拟集成电路测试单元(模拟器件测试单元);

3)多功能仪表单元(八合一仪表单元);

4)三维立体V-I-F动态阻抗测试单元(动态阻抗测试单元)可扩充:2048路测试通道;

5)可编程程控电源单元:可根据测试需要扩充电源通道

6)硬件测试框架;

2.可编辑软件测试平台:

1)非代码编程:测试流程管理,形成流程化、标准化、信息化的测试程序;

2)代码编程:自动化、半自动化电路板整板测试,实现电路板批量化测试、电路板生产检验测试、电路板一致性分析测试。

3.测试夹具:

1)测试夹具:日常手工测试所需要的夹具;

2)治具:电路板整板测试的专用测试工装(定制:包括:针床、专用接口板等)

随机配件:

120 V或220 V交流电源适配器
使用说明书
三点探测装置,用于在线测试
用于测试SMD封装的测试插座适配器

尺寸:

53 (D)*44.5(w)*18(H) cm

重量:

20公斤

电源适配器:

输入:120 VAC或220 VAC ±5% 50/60 Hz
输出:36 VAC与C.T. 最大800mA

特点及优势

1.*硬件系统模块化设计,可根据要求扩充测试模块和测试通道

2.*软件系统测试过程流程化设计,可以通过非编程方式实现测试过程流程化:保存流程测试的所有步骤和数据,形成标准的测试流程。以后的测试就

3.按照流程步骤进行测试,得出相应的结果,并形成数据对比报告。测试流程的制定贯穿整个测试过程,并不断完善测试流程。实时将测试经验、测试信息扩充到测试流程工艺中。完成了流程化设计的电路板可以实现人工快速、半自动化故障排查及板级系统测试,提高排故和测试效率。

4.*测试数据记录并生成自定义检测报告。系统的测试数据可以根据需要定制生成自定义测试报告。测试报告包含用户关注的测试数据与测试结果。生成用户专有的测试报告,方便测试数据的保存。

5.*多电源数字电路测试模块具备64通道数字集成电路在线、离线功能测试(可扩充到2048通道),每个通道可以根据需要分别独立定义为:输入/电压测量、输出/信号驱动或V/I曲线测量;可进行自定义测试,器件与整板的自定义仿真测试。

6.*具备阈值电平临界点扫描测试功能,确定标准板电平临界值,可以检查故障板器件的稳定性。

7.系统可对各种器件进行端口测试: V-I、V-T、V-I-F测试.二维V-I测试低达1Hz频率,三维测试频率高达到10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。

8.变频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或电路板,三维立体图形测量测量方式,适合数字及模拟集成电路与电路板的测试。

9.*系统各个模块在同一个专业平台操控下同时运行,完成流程化、步骤化、标准化测试并生成自定义测试报告。

10.*集成8种测试仪器于一体:3通道数字示波器、2通道任意波形发生器、2通道数字电压表、1通道数字电流表、1通道数字电阻表、1通道频率计、8通道通用I/O接口、4路辅助电源。8种常规测试仪器可以并发操作,所有步骤过程可以记录存储并可对比,所有测试数据可以量化,并可以形成测试报告,可对电路板进行仿真测试、调试测试、一致性测试等整板测试。

11.可编程程控电源模块具备3通道隔离电源输出,电源输出由系统软件来控制,三个通道可以支持串并联以增加电压和电流的输出范围。电源供应器模块可根据流程设计,自动开启和关闭测试所需的电源。电源配合其他模块使用,可实现整板测试与多电源测试的流程自动化。

12.多达上万种的数字器件测试库,测试器件库涵盖常用的器件。也可以通过图形化器件编辑器快速扩充与自定义器件测试库。可以通过图形化器件编辑器定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号,快速批量建立元器件和整板测试库。

13.系统含有模拟器件测试库,可对放大器、比较器、二极管、三极管、晶闸管、场效应晶体管、光耦器件、AD和DA数模转换器件等模拟集成电路进行功能测试。 可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试等。

14.系统可对各种器件进行端口测试:V-I、V-T、I-T测试。测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试.