英国abi 集成电路测试仪

英国abi集成电路测试仪

产品功能:

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP, TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板。

产品技术规格:

  • 测试通道:256集成电路快速筛选测试通道;
  • 测量通道:64路V-I-F/V-I测试通道(最大可扩充至2048通道);
  • 探笔通道:4通道实时对比测试;
  • 信号通道:4通道同步脉冲信号输出;
  • 扫描波形:正弦波、三角波、锯齿波
  • 集成电路筛选扫描频率:100Hz/200Hz/500Hz/1KHz/2KHz/5KHz 6种频率供选择
  • 测试信号频率范围:二维测试频率范围:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);
  • 三维测试频率范围:10Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调);
  • 扫描电压:20Vp-p/10Vp-p/4Vp-p/2Vp-p,调整分辨率0.1V;可以设定为非对称扫描电压
  • 测试信号电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;
  • 测试源电阻:100Ω ~ 1MΩ;
  • .扫描类型2种:
    矩阵扫描:以每个管脚为公共端,其他管脚对公共端的扫描。
    常规扫描:以某个管脚为公共端,其他管脚对这个管脚的扫描。
  • 测试方法2种:数据存储对比、元器件间对比
  • 扫描循环4种:单次、循环;
  • 显示图形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F;
  • 二维V-T测量方式:检查与时间特性器件的测量方式;
  • 三维立体V-I-F测量方式:检查与频率特性有关的器件或电路板的测量方式;
  • 同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;
  • 同步信号振幅: -10 V ~ +10V可调,最小调整分辨率0.01V;
  • 设备升级:可以以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道。
  • 电气规格:电源电压:85-264VAC,电源频率47-63Hz
  • 操作环境:操作温度:10℃~30℃,操作湿度:20-80%RH