英国abi 集成电路测试仪
产品功能：
1）集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；
2）快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件；
3）对不良器件进行三维动态阻抗失效分析；
4）非加电条件下对集成电路、电路板进行面的端口动态阻抗测试分析；
5）快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚；
6）测试安可靠，面解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题；
7）进行集成电路和电路板阻抗一致性检测；
8）配合测控平台软件，实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。
适合不同封装形式的元件:
-双列插脚(DIL)
-小型封装集成集成电路(SOIC)
-小型封装(SSOP, TSOP)
-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
注意: AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板。
产品技术规格：
- 测试通道：256集成电路快速筛选测试通道；
- 测量通道：64路V-I-F/V-I测试通道(可扩充至2048通道)；
- 探笔通道：4通道实时对比测试；
- 信号通道：4通道同步脉冲信号输出；
- 扫描波形：正弦波、三角波、锯齿波
- 集成电路筛选扫描频率：100Hz/200Hz/500Hz/1KHz/2KHz/5KHz 6种频率供选择
- 测试信号频率范围：二维测试频率范围:1 Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调)；
- 三维测试频率范围：10Hz ~ 10kHz(以1Hz为步进连续可调)；
- 扫描电压：20Vp-p/10Vp-p/4Vp-p/2Vp-p，调整分辨率0.1V；可以设定为非对称扫描电压
- 测试信号电压范围：2 V ~ 50 Vp-p；
- 测试源电阻：100Ω ~ 1MΩ；
- .扫描类型2种:
矩阵扫描:以每个管脚为公共端，其他管脚对公共端的扫描。
常规扫描:以某个管脚为公共端，其他管脚对这个管脚的扫描。
- 测试方法2种:数据存储对比、元器件间对比
- 扫描循环4种:单次、循环；
- 显示图形模式: V-I, V-T, V-I-F,V-T-F；
- 二维V-T测量方式：检查与时间特性器件的测量方式；
- 三维立体V-I-F测量方式：检查与频率特性有关的器件或电路板的测量方式；
- 同步脉冲输出模式：单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲；
- 同步信号振幅： -10 V ~ +10V可调，最小调整分辨率0.01V；
- 设备升级：可以以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。
- 电气规格：电源电压:85-264VAC，电源频率47-63Hz
- 操作环境：操作温度:10℃～30℃，操作湿度:20-80%RH
