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ICT-33C集成电路测试仪

ICT-33C集成电路测试仪

 

商品描述:集成电路测试仪,ICT-33C;*器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型;*器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试;*器件代换查询:仪器可显示有...

ICT-33C+集成电路测试仪

ICT-33C+集成电路测试仪

 

商品描述:集成电路测试仪,ICT-33C+;器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏;器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号;器件老化测试:当怀疑被测器件的...

GT2100A数字集成电路多参数测试仪

GT2100A数字集成电路多参数测试仪

 

商品描述:数字集成电路多参数测试仪,GT2100A;1. 测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试;2. 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试;3. 真值表功能测试的同时,完成“三态”(高...

GT2200A模拟集成电路多参数测试仪

GT2200A模拟集成电路多参数测试仪

 

商品描述:模拟集成电路多参数测试仪,GT2200A;1.根据IC型号自动切换测试,无需人工转接线更换测试盒;2.具有自校准功能,测试参数基准稳定;3.测试参数值读取快洁、直观

Lp-1掌上型数位IC测试仪器

Lp-1掌上型数位IC测试仪器

 

商品描述:掌上型数位IC测试仪器,Lp-1;1. 为测试数字 IC而设计;2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44;3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电

Lp-2掌上型线性IC测试仪器

Lp-2掌上型线性IC测试仪器

 

商品描述:掌上型线性IC测试仪器,Lp-2;1. 为测试线性 IC而设计;2. 可测元件:OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、 N555 Serie...

LPICT-6C桌上型数字IC测试器

LPICT-6C桌上型数字IC测试器

 

商品描述:桌上型数字IC测试器,LPICT-6C;1. 桌上型设计,结构紧密,操作简单;2.16字9x7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如;3.开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性

LPICT-7A线性IC测试仪

LPICT-7A线性IC测试仪

 

商品描述:线性IC测试仪,LPICT-7A;1. 桌上型设计,结构紧密,操作简单;2. 16字9×7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如;3. 开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性

ChipMaster数字集成电路测试仪

watermark_hot_small ChipMaster数字集成电路测试仪

 

商品描述:ChipMaster数字集成电路测试仪;可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

LinearMaster模拟集成电路测试仪

watermark_hot_small LinearMaster模拟集成电路测试仪

 

商品描述:英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪;内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知型号元件;元件代换查询;

PT3000,ABI手持式数字IC测试器

PT3000,ABI手持式数字IC测试器

 

商品描述:ABI手持式数字IC测试器,PT3000;·可显示具体某个脚的故障诊断信息;·可进行循环或有条件循环测试;·体积小,可使用整流电源,亦可使用电池工作

PT3100,ABI记忆芯片测试仪

PT3100,ABI记忆芯片测试仪

 

商品描述:ABI记忆芯片测试仪,PT3100;1、 可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP,测试容量:16K--- 116M;2、 可自动测试芯片的好坏,也可先设定型号,再进行测试;3、...

PT3200,ABI手持式线性IC测试器

PT3200,ABI手持式线性IC测试器

 

商品描述:ABI手持式线性IC测试器,PT3200;·可显示元器件单个管脚的诊断信息;·可使用整流电源或干电池,功耗低,可自动关机;·可测器件列表

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