集成电路测试仪(离线)_集成电路测试仪_仪器网

商品描述：集成电路测试仪,ICT-33C；*器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型；*器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试；*器件代换查询：仪器可显示有...

商品描述：集成电路测试仪,ICT-33C+；器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏;器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号;器件老化测试：当怀疑被测器件的...

商品描述：数字集成电路多参数测试仪,GT2100A；1．测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试；2．对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试；3．真值表功能测试的同时，完成“三态”（高...

商品描述：模拟集成电路多参数测试仪,GT2200A；1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒；2．具有自校准功能，测试参数基准稳定；3．测试参数值读取快洁、直观

商品描述：掌上型数位IC测试仪器,Lp-1；1．为测试数字 IC而设计；2．可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44;3．轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电

商品描述：掌上型线性IC测试仪器,Lp-2；1．为测试线性 IC而设计；2．可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、 N555 Serie...

商品描述：桌上型数字IC测试器,LPICT-6C；1. 桌上型设计,结构紧密,操作简单；2.16字9x7点阵LCD显示,背光设计,光线不良的环境也可以操作自如；3.开机自我侦测,确保测试工作的品质和稳定性

商品描述：线性IC测试仪,LPICT-7A；1．桌上型设计，结构紧密，操作简单；2． 16字9×7点阵LCD显示，背光设计，光线不良的环境也可以操作自如；3．开机自我侦测，确保测试工作的品质和稳定性

商品描述：ChipMaster数字集成电路测试仪;可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

商品描述：英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪;内置元件库可以扩充升级;准确可靠的仿真测试;全面性测试更加准确;显示故障管脚的诊断信息;查找未知型号元件;元件代换查询;

商品描述：ABI手持式数字IC测试器,PT3000；·可显示具体某个脚的故障诊断信息；·可进行循环或有条件循环测试；·体积小，可使用整流电源，亦可使用电池工作

商品描述：ABI记忆芯片测试仪,PT3100；1、可测试32脚以内SRAM、DRAM、30线以内SIMM、SIP，测试容量：16K--- 116M；2、可自动测试芯片的好坏，也可先设定型号，再进行测试;3、...

商品描述：ABI手持式线性IC测试器,PT3200；·可显示元器件单个管脚的诊断信息；·可使用整流电源或干电池，功耗低，可自动关机；·可测器件列表