shtek8800A半导体分立器件测试仪

商品描述：半导体分立器件测试仪,shtek8800A；测试系统可对器件测试结果进行存储和打印；测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准；测试系统技术指标

ICT2900半导体分立器件测试仪

商品描述：半导体分立器件测试仪,ICT2900；简便易学的窗口菜单式软件；测试种类几乎覆盖全部半导体分立器件；广泛用于半导体分立器件的生产测试，验收测 试，质量控制和工程设计；终身技术支持

HB2931B可控硅综合参数测试仪

商品描述：可控硅综合参数测试仪,HB2931B；1、通态峰值电压 VTM测量范围 0~5V 误差≤+5%；2、通态峰值电流 ITM测量范围 0~20A 误差≤+5%；3、断态重复峰值电压 VDRM（含VDSM）...

QT2半导体管特性图示仪

商品描述：半导体管特性图示仪,QT2；阶梯电流 1μA/级～200A/级，分17档;阶梯电压 0.05V级～1V/级，分5档;阶梯波形 正常（100%），脉冲（10～40%）

BJ2900A截止电流反向击穿电压测试仪

商品描述：截止电流反向击穿电压测试仪,BJ2900A；大气压强：(86—106)K Pa；交流供电：220V±10% , 50Hz±2.5Hz；外电磁场：应避免

BJ2923晶体管测试仪

商品描述：晶体管测试仪,BJ2923；1。智能化自动测试；2。自动校准，自动选择最佳量程；3。测试前后管座自动断电

BJ2948闸流晶体管参数测试仪

商品描述：闸流晶体管参数测试仪,BJ2948；采用内置计算机控制；CRT显示；带打印接口；操作简便,智能化程度高

BJ2922A场效应管测试仪

商品描述：场效应管测试仪,BJ2922A；半导体参数测试仪

BJ2912B稳压二极管测试仪

商品描述：稳压二极管测试仪,BJ2912B；正向电流If：0-500mA；反向电压Vr:0-290V（3档）；向电流Ir：0-1mA（2档）

BJ2961A智能化晶体管开关参数测试仪

商品描述：智能化晶体管开关参数测试仪,BJ2961A；脉冲信号源 ： 频率20KHz 脉冲宽度:0.7-2.5uS . ±脉冲前沿:≤2nS. ±脉冲幅度: ±10V±0.5V；取样示波器 ： 带宽: 1000...

BJ2962二极管反向恢复时间测试仪

商品描述：二极管反向恢复时间测试仪,BJ2962；10nS~0.5uS，分四档，误差：正负5%；带宽：1000MHz；输入阻抗>=100M欧姆

BJ2983三极管正偏二次击穿测试仪

商品描述：三极管正偏二次击穿测试仪,BJ2983；测试功率：0~750W（100V，5A或300V，2.5V）；集电极电压：0~300V连续可调分两档：0~100V(5A),0~300V(2.5)。误差：<=正...

BJ2984三极管瞬态热阻测试仪

商品描述：三极管瞬态热阻测试仪,BJ2984；半导体参数测试仪

BJ2986晶体管直流脉冲开关安全工作区测试仪

商品描述：晶体管直流脉冲开关安全工作区测试仪,BJ2986；半导体参数测试仪

BJ2989,MOS场效应管瞬态热阻测试仪

商品描述：MOS场效应管瞬态热阻测试仪,BJ2989；半导体参数测试仪

BJ2990MOS场效应管测试仪

商品描述：场效应管测试仪,BJ2990MOS；半导体参数测试仪

JS-2D晶体管反向截止电流测试仪

商品描述：晶体管反向截止电流测试仪,JS-2D； 工作环境温度：10—30℃；相对湿度：30℃（20—75）%RH；大气压强：（36~106）Kpa

JS-2G二极管反向漏电流测义

商品描述：二极管反向漏电流测义,JS-2G；半导体参数测试仪

FT高频小功率晶体管ft测试仪

商品描述：高频小功率晶体管ft测试仪,FT；半导体参数测试仪

IST8800美国分立半导体器件综合测试仪

商品描述：美国分立半导体器件综合测试仪,IST8800；本仪器是美国IST公司最新研制的产品；采用Z80芯片；微机控制；液晶显示其测试条件及测量结果；可用于对晶体三极管